Die Pins sind nicht direkt am IC kontaktierbar, das liegt in der Natur eines BGA-Gehäuses, aber sie müssen für ICT irgendwo auf der Leiterplatte kontaktierbar sein. Das kann an einer Durchkontaktierung (via) der Fall sein, oder auch an der Kontaktierung zu einem anderen Bauteil, oder eben an einer speziell dafür vorgesehenen Testfläche.
Der Incircuit-Test ist eine Möglichkeit, Bauteile und ganze Leiterplatten im bestückten Zustand auf Fehlerfreiheit zu überprüfen, auch lassen sich damit nichtflüchtigen Speicher im bestückten Zustand programmieren und entsprechend auch auslesen.
Nadeladapter für den ICT sind allerdings teuer in der Herstellung, könnten aber bei einem Reparaturdienstleister bereits vorliegen, wenn was zum Testen taugt, taugt es in der Regel auch zur Fehlereingrenzung.
Deshalb wurde die JTAG-Schnittstelle erfunden.
Hierbei werden über eine Handvoll Pins, die natürlich auch zugänglich sein müssen, Schieberegister in den Bauteilen angesprochen, die mit den Pins verbunden sind, und diese sowohl nach innen als auch nach aussen stimulieren können. Dadurch kann das Bauteil selber, aber auch seine Verdrahtung mit anderen, ebenfalls JTAG-fähigen Bauteilen überprüft werden. Nichtflüchtige Speicher lassen sich entsprechend auch über die JTAG-Schnittstelle sowohl programmieren als auch auslesen.
Nachtrag:
Dem Werbevideo von w-support nach, versucht der Dienstleister wohl, das Gerät zumindest soweit Instand zu setzen, dass der Zugriff auf den Speicher wieder möglich wird. Ich nehme an, damit ist gemeint, dass SoC, ggf. externes RAM und die USB-Schnittstelle wieder laufen. Ein defektes Display könnte man bei einer reinen Datenrettung auch nur provisorisch ersetzen.
https://www.w-support.com/datenrettung.aspx
Quelle: w-support.com
— geändert am 16.04.2020, 03:51:00